| Wielkość | Symbol | Wartość | Jednostka | Względna niepewność standardowa |
| Wzorce długości fal promieni X | ||||
| (Cu K | xu(Cu K | 1, 002 077 03(28)×10-13 | m | 2, 8×10-7 |
| (Mo K | xu(Mo K | 1, 002 099 59(53)×10-13 | m | 5, 3×10-7 |
| ångstrom star | Å* | 1, 000 015 01(90)×10-10 | m | 9, 0×10-7 |
| Parametr sieci Si | a | 543, 102 088(16)×10-12 | m | 2, 9×10-8 |
| (w próżni, 22,5 oC) | ||||
| Odległość sieciowa {220} w Si a/ | d220 | 192, 015 5845(56)×10-12 | m | 2, 9×10-8 |
| Objętość molowa Si | ||||
| M(Si)/ | Vm(Si) | 12, 058 8369(14)×10-6 | m3 mol-1 | 1, 2×10-7 |
| (w próżni, 22,5 oC) | ||||
Tu jednostki xu(Cu K
), xu(Mo K
) oraz Å* są stałymi wyrównanymi.
Parametr sieci (długość krawędzi komórki jednostkowej) idealnego pojedyńczego naturalnego kryształu Si wolnego od domieszek i zanieczyszczeń jest wyprowadzony z pomiarów na bardzo czystych i prawie doskonałych kryształach Si z poprawką na efekty zanieczyszczeń. Odległość sieciowa d220 w idealnym pojedyńczym naturalnym krysztale Si jest stałą wyrównaną.
Dr P.J. Mohr i B.N. Taylor przysłali nam publikację [1] ze zgodą na przedrukowanie Tablic. Zgodę dało także Amerykańskie Towarzystwo Fizyczne. Wyrażamy im podziękowanie.
M. Suffczyński i P. Janiszewski
Instytut Fizyki PAN, Warszawa